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Consultabile TOLIO THOMAS, PANPHLAN: STRAIN-LEVEL CHARACTERIZATION OF MICROBES FROM COMPLEX METAGENOMIC SAMPLES, Rel. SEGATA NICOLA, AA 2013/2014
Autore: TOLIO THOMAS
Titolo: PANPHLAN: STRAIN-LEVEL CHARACTERIZATION OF MICROBES FROM COMPLEX METAGENOMIC SAMPLES
Relatore: SEGATA NICOLA
Correlatore: SCHOLZ MATTHIAS
Anno accademico: 2013/2014
Corso: Corso di Laurea Magistrale - INFORMATICA [0517H]
Struttura didattica: Dipartimento di Ingegneria e Scienza dell'Informazione
Formato: digitale
Segnatura: 0517H-259
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